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XJP158J金相显微镜

XJP158J金相显微镜是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的,作为高级金相显微镜用户在使用时能够体验其超强性能,可广泛应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸件/金属/陶瓷部件、精密模具的检测。本仪器采用了反射和透射两种照明形式,在反射光照明下可进行明暗场观察和DIC观察、偏光观察。在透射光下作明场观察。稳定、高品质的光学系统使成像更清晰,衬度更好。符合人机工程学要求的设计,使您在工作中感到舒适和放松。

技术规格

观察头

30°铰链式三目(50mm-75mm)

目镜

WF10×/25mm

WF10×/20mm,带0.1mm十字分划板

物镜

10×/0.25B.D/W.D.16mm、20×/0.40B.D/W.D.10.6mm、40×/0.60B.D/W.D.5.4mm、

转换器

带DIC插孔四孔转换器

平台

双层移动平台

滤色片

插板式滤色片(绿、蓝、中性)

聚光镜

N.A.1.25阿贝聚光镜带可变光阑和滤色片

调焦

粗、微动同轴调焦,采用齿轮齿条传动机构.微动格值0.002mm

光源

偏光装置

检偏镜可360度转动,起偏镜、检偏镜均可移出光路

检测工具

0.01mm测量尺

可供附件

二维测量软件

专业金相图像分析软件

80×/0.75B.D/W.D.4mm、100×/0.80B.D/W.D.3mm

测微目镜

130万、200万、300万、500万像素CMOS电子目镜

摄影装置及CCD接口0.5×、0.57×、0.75×

DIC(10×、20×、40×、100×)

压平机

彩色1/3寸CCD 520条线

特点说明

1.  采用了UIS高分辨率、长工作距离无限光路校正系统的物镜成像技术。

2.  拓展了物镜的复用技术,无限远物镜与所有观察法相兼容包括明暗视野法、偏光法,DIC并在

每一观察法中均提供高清晰的图像质量。

3.  采用非球面Kohler照明,增加观察亮度。

4.  WF10×(Φ25)超大视野目镜,长工作距离明暗场金相物镜。

5.  可插DIC微分干涉装置的转换器。

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